失效分析是生產(chǎn)、研發(fā)和分析測試的重要技術(shù)，對提升產(chǎn)品質(zhì)量具有重要意義。4月，國星之光大講堂第二期“失效分析概論”專題課程開展后，引發(fā)起學(xué)員們對失效分析問題的積極探索與思考，反響熱烈。為此，國星光電研究院征集了學(xué)員們在實(shí)際生產(chǎn)、研發(fā)和分析測試中面臨的LED失效問題，進(jìn)一步開展專門面向LED失效分析的專題授課，近日，國星之光大講堂第四期——“LED失效分析技術(shù)及典型案例”如盼而至！

意猶未盡，再度深入LED失效分析

國星之光大講堂第四期——“LED失效分析技術(shù)及典型案例”特邀工業(yè)和信息化部電子第五研究所分析中心材料可靠性工程部高分子材料項(xiàng)目負(fù)責(zé)人、正高級工程師徐煥翔專家作專題授課，課堂聚焦熱點(diǎn)，剖析痛點(diǎn)，解決難點(diǎn)，干貨滿滿。來自國星光電研究院、各事業(yè)部研發(fā)部門和質(zhì)量部門的100余名國星學(xué)員齊聚一堂，再度掀起學(xué)習(xí)新熱潮！

國星之光大講堂

講堂上，徐煥翔專家結(jié)合自身在LED常用材料的失效分析及失效機(jī)理研究和可靠性評價(jià)領(lǐng)域的豐富經(jīng)驗(yàn)，鞭辟入里地講述了LED結(jié)構(gòu)材料及失效模式機(jī)理和LED失效分析技術(shù)及常用設(shè)備，并且結(jié)合實(shí)際LED失效案例分享了LED失效分析的方法，剖析了LED失效分析的原因。

積極發(fā)問，齊研共討攻克難題

“請問靜電孔損傷的定位分析手段有哪些？”

“請問顯微鏡下外觀無異常的小漏電樣品的漏電原因是什么？”

“請問微光顯微鏡的測試原理是什么，能否精準(zhǔn)定位到微顯示模組中的缺陷位置？”

學(xué)員們根據(jù)自身在研發(fā)、生產(chǎn)、分析測試中遇到的LED失效分析的實(shí)際問題和困難，與徐煥翔專家展開了深入的交流與探討，徐煥翔專家結(jié)合自身學(xué)術(shù)研究和在LED失效分析領(lǐng)域的實(shí)踐經(jīng)歷，進(jìn)行了精彩的回答，進(jìn)一步拓寬了學(xué)員們的學(xué)術(shù)視野。課程尾聲，學(xué)員們意猶未盡，紛紛表示：“這次課程真的講到自己的心坎上，直擊痛點(diǎn)，拆解難點(diǎn)，收獲頗豐！”、“回去定將今日所學(xué)應(yīng)用于實(shí)踐之中！”。

國星光電一直注重科技人才培養(yǎng)，始終致力深耕技術(shù)研究，切實(shí)推動(dòng)技術(shù)成果轉(zhuǎn)化及產(chǎn)業(yè)化進(jìn)程，提升企業(yè)創(chuàng)新實(shí)力和綜合競爭力。截止目前，國星光電已攻克了多項(xiàng)前沿核心技術(shù)和共性基礎(chǔ)難題以支撐重大科技項(xiàng)目的實(shí)施，開展實(shí)施各級政府科研項(xiàng)目達(dá)150余項(xiàng)，其中省級以上80余項(xiàng)，已申請專利近千項(xiàng)，已授權(quán)專利近700項(xiàng)（含子公司），榮膺國家科技進(jìn)步獎(jiǎng)一等獎(jiǎng)、國家科技進(jìn)步獎(jiǎng)二等獎(jiǎng)、國家知識(shí)產(chǎn)權(quán)示范企業(yè)等多項(xiàng)榮譽(yù)。

未來，國星光電將持續(xù)提升自主創(chuàng)新能力，加強(qiáng)技術(shù)儲(chǔ)備和人才儲(chǔ)備，為提升我國品牌自主研發(fā)實(shí)力及國際競爭力貢獻(xiàn)國星力量。